显然，这并非微不足道。这篇《新科学家》的文章引用了一份英特尔专利申请:

“宇宙射线引发的电脑死机已经发生过，而且随着芯片中器件(例如晶体管)尺寸的减小，预计死机的频率将会增加。这个问题预计将成为未来十年计算机可靠性的主要限制因素。”

你可以在这里阅读完整的专利。

维基百科引用了IBM在90年代的一项研究，该研究表明“计算机通常每个月每256兆字节的RAM中会出现一次宇宙射线引起的错误。”不幸的是，引用的是《科学美国人》上的一篇文章，该文章没有提供任何进一步的参考文献。就我个人而言，我发现这个数字非常高，但也许大多数由宇宙射线引起的记忆错误不会引起任何实际或明显的问题。

另一方面，当涉及到软件场景时，人们谈论概率通常不知道他们在谈论什么。

注意:这个答案不是关于物理的，而是关于非ecc内存模块的无声内存错误。有些错误可能来自外部空间，有些则来自桌面内部空间。

在大型服务器场(如CERN集群和谷歌数据中心)上有几项关于ECC内存故障的研究。带有ECC的服务器级硬件可以检测和纠正所有的单比特错误，并检测许多多比特错误。

我们可以假设有很多非ecc台式机(以及非ecc移动智能手机)。如果我们检查论文的ecc可纠正错误率(单位翻转)，我们可以知道非ecc内存上的静默内存损坏率。

Large scale CERN 2007 study "Data integrity": vendors declares "Bit Error Rate of 10-12 for their memory modules", "a observed error rate is 4 orders of magnitude lower than expected". For data-intensive tasks (8 GB/s of memory reading) this means that single bit flip may occur every minute (10-12 vendors BER) or once in two days (10-16 BER). 2009 Google's paper "DRAM Errors in the Wild: A Large-Scale Field Study" says that there can be up to 25000-75000 one-bit FIT per Mbit (failures in time per billion hours), which is equal to 1 - 5 bit errors per hour for 8GB of RAM after my calculations. Paper says the same: "mean correctable error rates of 2000–6000 per GB per year". 2012 Sandia report "Detection and Correction of Silent Data Corruptionfor Large-Scale High-Performance Computing": "double bit flips were deemed unlikely" but at ORNL's dense Cray XT5 they are "at a rate of one per day for 75,000+ DIMMs" even with ECC. And single-bit errors should be higher.

因此，如果程序有很大的数据集(几GB)，或者有很高的内存读写速率(GB/s或更高)，并且它运行了几个小时，那么我们可以期望在桌面硬件上进行几次静默位翻转。memtest检测不到这个速率，DRAM模块表现良好。

长集群在数千台非ecc pc上运行，比如BOINC，互联网范围的网格计算总是会有内存位翻转、磁盘和网络静默错误造成的错误。

And for bigger machines (10 thousands of servers) even with ECC protection from single-bit errors, as we see in Sandia's 2012 report, there can be double-bit flips every day, so you will have no chance to run full-size parallel program for several days (without regular checkpointing and restarting from last good checkpoint in case of double error). The huge machines will also get bit-flips in their caches and cpu registers (both architectural and internal chip's triggers e.g. in ALU datapath), because not all of them are protected by ECC.

PS:如果DRAM模块坏了，情况会更糟。例如，我在笔记本电脑上安装了新的DRAM，几周后它就死机了。它开始出现很多内存错误。我得到:笔记本电脑挂起，linux重启，运行fsck，在根文件系统上发现错误，并说它想在纠正错误后重新启动。但是在每次重新启动(我做了大约5-6次)时，仍然会在根文件系统上发现错误。

从维基百科:

IBM在20世纪90年代的研究表明，计算机通常每个月每256兆字节的RAM会经历一次宇宙射线引起的错误

这意味着每月每个字节的概率为3.7 × 10-9，或每秒每个字节的概率为1.4 × 10-15。如果您的程序运行1分钟并占用20 MB RAM，则失败概率为

                 60 × 20 × 1024²
1 - (1 - 1.4e-15)                = 1.8e-6 a.k.a. "5 nines"

错误检查可以帮助减少失败的后果。此外，正如Joe所评论的那样，由于芯片尺寸更紧凑，故障率可能与20年前不同。

作为一个数据点，这发生在我们的构建中:

02:13:00,465 WARN  - In file included from /Applications/Xcode.app/Contents/Developer/Toolchains/XcodeDefault.xctoolchain/usr/bin/../include/c++/v1/ostream:133:
02:13:00,465 WARN  - /Applications/Xcode.app/Contents/Developer/Toolchains/XcodeDefault.xctoolchain/usr/bin/../include/c++/v1/locale:3180:65: error: use of undeclared identifier '_'
02:13:00,465 WARN  - for (unsigned __i = 1; __i < __trailing_sign->size(); ++_^i, ++__b)
02:13:00,465 WARN  - ^
02:13:00,465 WARN  - /Applications/Xcode.app/Contents/Developer/Toolchains/XcodeDefault.xctoolchain/usr/bin/../include/c++/v1/locale:3180:67: error: use of undeclared identifier 'i'
02:13:00,465 WARN  - for (unsigned __i = 1; __i < __trailing_sign->size(); ++_^i, ++__b)
02:13:00,465 WARN  - ^

这看起来非常像在编译过程中偶然在源文件中非常重要的位置发生的位翻转。

我并不是说这是“宇宙射线”，但症状是相符的。

您可能还想看看容错硬件。

例如，Stratus Technology构建了名为ftServer的Wintel服务器，它有2或3个锁步“主板”，比较计算结果。(有时在太空飞行器中也会这样做)。

Stratus服务器从定制芯片组发展到背板上的同步。

一个非常类似的(但是是软件)系统是基于Hypervisor的VMWare Fault Tolerance lockstep。